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標(biāo)題: 原子力顯微鏡的工作原理 [打印本頁]

作者: 智達(dá)機(jī)電 時(shí)間: 2025-1-17 10:33
標(biāo)題: 原子力顯微鏡的工作原理
原子力顯微鏡（AFM）通過一個(gè)尖銳的探針與樣品表面相互作用，利用探針的位移或振動(dòng)來獲取表面信息。探針通常固定在一個(gè)懸臂梁上，當(dāng)它接近樣品時(shí)，表面力（如范德華力、靜電力等）使探針發(fā)生彎曲或偏移。激光反射系統(tǒng)用于測(cè)量探針的位移，掃描過程中通過反饋控制保持探針與樣品之間的力恒定。AFM可以在接觸、非接觸或輕敲模式下工作，提供高分辨率的表面形貌圖像，并可測(cè)量樣品的力學(xué)、電學(xué)等特性。

作者: 馬嘍 時(shí)間: 2025-1-17 11:26
贊同樓上，這個(gè)角度我之前沒想到。

作者: 驚喜星期二 時(shí)間: 2025-1-17 12:33
謝謝你的建議，我會(huì)嘗試的。

作者: 771 時(shí)間: 2025-11-19 21:22
我對(duì)這個(gè)話題不太了解，但希望能多學(xué)一些。

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